YME-2063系列 # 光学反射支架

简介

反射样品支架可用于固体和粉末样品材料多角度反射率的测量。我们提供了单臂、双臂和倒置三种不同的形态，方便用户应用于不同的测试应用中。YME-2063-01单臂形态主要用于固定Y型光纤探头，可测量光垂直入射的情况。YME-2063-02双臂形态主要用于固定两根石英光纤探头，可测量光不同角度入射的情况。单双臂形态可以方便地互相切换，具备高灵活性和强实用性。YME-2607倒置式反射支架更加适合于需要精确测量光谱反射率的场合，可以保持样品至反射光纤的距离和标准参比样品至反射光纤的距离精确相等。

特点

• 多形态可选，适用更多的应用

• 底盘可定位多种标准尺寸

• 多方向控制光纤入射和出射的角度

兼容产品

XOP-1102 石英光纤

技术参数